Ujian litar bersepadu sangat penting untuk fungsi kebanyakan peranti elektronik. Microchip, seperti sirkuit terpadu juga dikenal, dapat ditemukan di komputer, telefon bimbit, kereta, dan hampir apa sahaja yang mengandungi komponen elektronik. Tanpa menguji kedua-duanya sebelum pemasangan akhir dan sekali dipasang pada papan litar, banyak peranti akan tiba tidak berfungsi atau berhenti berfungsi lebih awal daripada jangka hayat yang diharapkan. Terdapat dua kategori utama ujian litar bersepadu, ujian wafer dan ujian tahap papan. Di samping itu, ujian mungkin berdasarkan struktur atau fungsional.
Uji wafer, atau pemeriksaan wafer, dilakukan pada tahap produksi, sebelum pemasangan chip' di tujuan terakhirnya. Ujian ini dilakukan dengan menggunakan peralatan ujian automatik (ATE) pada wafer silikon lengkap dari mana cip mati persegi akan dipotong. Sebelum pembungkusan, ujian akhir dilakukan di tingkat papan, menggunakan ATE yang sama atau serupa dengan ujian wafer.
